プローブ顕微鏡 に該当した生産財

2件
2件
チェックした生産財を 一括問い合わせ
チェックした生産財を 一括問い合わせ
2件

プローブ顕微鏡について

探針により表面形状・物性を原子レベルで測定する走査型顕微鏡。AFM・STM・MFM により表面粗さ・電気特性・磁気特性を評価。半導体・ナノマテリアル・薄膜・生体材料の表面解析・品質管理・研究開発に使用。

キーワード検索