表面分析分光計
X線光電子分光法(XPS)は、化学分析用電子分光法(ESCA)とも呼ばれ、材料の特性評価に成熟した広く使用されている表面分析技術です。 XPSは、材料の最上部10nmからの定量的な元素および化学状態情報を提供します。 AXIS Nova光電子分光計は、この技術に必要な超高真空条件下で安定している任意の材料からX線光電子スペクトルと画像を収集できます。
カテゴリ
X線光電子分光法(XPS)は、化学分析用電子分光法(ESCA)とも呼ばれ、材料の特性評価に成熟した広く使用されている表面分析技術です。 XPSは、材料の最上部10nmからの定量的な元素および化学状態情報を提供します。 AXIS Nova光電子分光計は、この技術に必要な超高真空条件下で安定している任意の材料からX線光電子スペクトルと画像を収集できます。