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Bara Scientific Co.,Ltd.
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表面分析スペクトロメーター

X線光電子分光法 (XPS) は、化学分析用電子分光法 (ESCA) とも呼ばれ、材料の特性評価に広く用いられる包括的な表面分析技術です。XPSは、材料の最表面から最大10nmまでの深さにおける定量的な元素組成および化学状態に関する情報を提供します。光電子分光計 AXIS Nova は、この技術に必要な超高真空条件下で安定しているあらゆる材料から、X線光電子スペクトルおよび画像を取得できます。

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試験・分析用装置 > 表面分析装置 > X線光電子分光装置（XPS）

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産業分類

産業用機械

主要三品目

X-Ray Fluorescence Spectrometer / スパークエミッション分光計 / 原子間力顕微鏡

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