CIRCOGRAPH CI 表面欠陥迅速検出用検査システム (タイ)
30 µmからのあらゆる材料の微細な欠陥を検出。CIRCOGRAPH CIで品質保証を強化しましょう。
■概要
CIRCOGRAPH CIは、強磁性体、オーステナイト系、非強磁性体の長尺表面欠陥を検出するための、コンパクトで高精度な検査システムです。このシステムは、簡単な操作と高い柔軟性を兼ね備え、様々な産業における品質保証に貢献します。
■特長
CIRCOGRAPH CIは、コンパクトな設計と直感的な操作ユニットにより、優れた使用体験をユーザーに提供します。さらに、ターン&プッシュ操作方式により設定変更が容易であり、2チャンネル検査システムは多様な検査ニーズに対応できます。また、30 µmからの欠陥深さ分解能により、微細な表面欠陥も見逃しません。
■仕様
・検査可能材料: 強磁性体、オーステナイト系、非強磁性体
・センサーシステム: 最大2つの対向型テストヘッド(Ro 20およびRo 35)を備えたロータリーセンサーシステム
・励磁周波数: 30 kHz~1 MHz
・最大スループット: 連続検査時3 m/s
・欠陥表示: Ro 20 / Ro 35 30 µmから
CIRCOGRAPH CIは、製造から品質管理まで、幅広い用途で使用できます。この検査システムを導入することで、製品品質と生産効率の向上に貢献します。
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