ระบบทดสอบ CIRCOGRAPH CI สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องบนพื้นผิวอย่างรวดเร็ว (ประเทศไทย)
ตรวจจับข้อบกพร่องขนาดเล็กในวัสดุทุกชนิดตั้งแต่ 30 µm เสริมสร้างการประกันคุณภาพของคุณด้วย CIRCOGRAPH CI
■สรุป
CIRCOGRAPH CI เป็นระบบทดสอบขนาดกะทัดรัดและมีความแม่นยำสูง สำหรับตรวจจับข้อบกพร่องบนพื้นผิวที่ยาวในวัสดุเฟอร์โรแมกเนติก, ออสเทนนิติก และไม่ใช่เฟอร์โรแมกเนติก ระบบนี้รวมเอาการใช้งานที่ง่ายและความยืดหยุ่นสูง ซึ่งมีส่วนช่วยในการประกันคุณภาพในอุตสาหกรรมที่หลากหลาย
■คุณสมบัติ
CIRCOGRAPH CI มอบประสบการณ์การใช้งานที่ยอดเยี่ยมแก่ผู้ใช้ ด้วยการออกแบบที่กะทัดรัดและชุดควบคุมที่ใช้งานง่าย นอกจากนี้ วิธีการทำงานแบบหมุนและกดช่วยให้สามารถเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าได้อย่างง่ายดาย และระบบทดสอบแบบสองช่องสัญญาณสามารถตอบสนองความต้องการในการทดสอบที่หลากหลาย ยิ่งไปกว่านั้น ด้วยความละเอียดในการตรวจจับความลึกของข้อบกพร่องตั้งแต่ 30 µm คุณจะไม่พลาดแม้แต่ข้อบกพร่องบนพื้นผิวที่เล็กที่สุด
■ข้อมูลจำเพาะ
・วัสดุที่สามารถทดสอบได้: วัสดุเฟอร์โรแมกเนติก, ออสเทนนิติก, วัสดุแม่เหล็กที่ไม่ใช่เหล็ก
ระบบเซ็นเซอร์: ระบบเซ็นเซอร์แบบหมุนพร้อมหัวทดสอบแบบตรงข้ามกันสูงสุดสองหัว (Ro 20 และ Ro 35)
・ความถี่กระตุ้น: 30 kHz ถึง 1 MHz
・ปริมาณงานสูงสุด: 3 m/s ระหว่างการทดสอบต่อเนื่อง
・การระบุข้อบกพร่อง: Ro 20 / Ro 35 ตั้งแต่ 30 µm
CIRCOGRAPH CI สามารถนำไปใช้งานได้หลากหลาย ตั้งแต่การผลิตไปจนถึงการควบคุมคุณภาพ ด้วยการนำระบบทดสอบนี้มาใช้ เราจะช่วยส่งเสริมการปรับปรุงคุณภาพผลิตภัณฑ์และประสิทธิภาพการผลิต
CONTACT
แบบฟอร์มติดต่อข้อมูลบริษัท
การตรวจสอบกระแสไหลวน / ทะลุทะลวง / อนุภาคแม่เหล็ก / การตรวจสอบอัลตราโซนิก
ก่อตั้งเมื่อวันที่ 29 มกราคม 2550 ดำเนินงานมามากกว่า 10 ปีในรูปแบบของตัวแทนของ NDT Instruments Pte. Ltd. สิงคโปร์ เราภูมิใจที่เป็นตัวแทนของพันธมิตรที่มีชื่อเสียง เช่น Eddyfi Technologies, Institut Dr ...
แคตตาล็อกที่เกี่ยวข้อง
