ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

エレクトロマイグレーション評価システム（AEM-2000） DC電流印加試験 タイ チョンブリー

400℃におけるエレクトロマイグレーション評価半導体デバイス寿命は、この微細加工や新材料に依存するため、より過酷な寿命加速条件下でのエレクトロマイグレーション評価が重要になっています。 この寿命加速要 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

PVモジュールサーマルサイクル（TC） 試験装置：IEC 61215 DC電流印加試験 タイ チョンブリー

STCピーク出力電流の印可が可能な温度サイクル（TC）試験システム太陽電池モジュールの規格であるJIS C 8990:2009では温度サイクル（TC）試験中に「＋25℃以上でＳＴＣピーク出力電流を印可 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

半導体パラメトリック評価システム 電気特性評価システム タイ チョンブリー

ウェーハの大口径化、微細化、高集積化に伴い、単体トランジスタの信頼性評価の重要性が高まっています。このシステムは、高精度な電圧・電流印加とFET単体トランジスタの電気的特性および継続的変化を測定し、1 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

容量(C)温度特性評価システム 電気特性評価システム タイ チョンブリー

「容量(C)温度特性評価システム」は環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

モニタードバーンインシステム 半導体関連装置 タイ チョンブリー

モニタードバーンインシステムMBIは、デバイスの動作を高温下で行い、デバイスの出力値と期待値を比較しながらサンプルの良否を判定します。メモリとロジックに対して必要なテストパターンを容易 に作成でき、高 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

スタティックバーンインシステム 半導体関連装置 タイ チョンブリー

半導体デバイスやアッセンブリされ電子機器に温度や種々の電気的ストレスを加え、表面汚染や入力回路劣化のある半導体デバイスの除去に効果を発揮するバーンインシステムです。

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

バーンインチャンバー 半導体関連装置 タイ チョンブリー

高密度の半導体デバイスの信頼性評価や大量スクリーニング用の装置です。優れた温度分布性能と許容発熱負荷特性を備え、バーンインボードの大容量化(33％アップ)とコンパクト設計による省スペース化を同時に実現 ...

ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (チョンブリー県)

不揮発性メモリ評価システム 半導体関連装置 タイ チョンブリー

不揮発性メモリ評価システムはフラッシュメモリやFeRAMなどの不揮発性メモリの評価試験を行うモニターバーンインシステムです。フラッシュメモリでは複雑なアルゴリズムを発生できるパターン発生機能とバッドブ ...