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ニコンのX線検査装置総合カタログは、工業用部品の内部構造を非破壊で画像化し、CT機能により内寸・外寸の定量化、物質密度検査、欠陥解析を可能にする幅広い製品群を紹介。X線CT検査装置のXT Hシリーズ、MCT225、C2は、450kVマイクロフォーカスX線源、開放管型、回転ターゲット、デュアルソース、CLDA、ヘリカルスキャン、精度保証などの技術を組み合わせ、高密度試料や大型部品の高分解能・高精度・高速検査を実現。一方、X線透過検査装置のXT Vシリーズは、最小1µmの高分解能、CT対応オプション、最大72°の傾斜撮像、X. Tract機能により、小型電子部品や多層構造のバーチャル断面画像取得に特化。全機種にマイクロフォーカスX線源を搭載し、専用制御ソフトウェアInspect-Xでリアルタイム欠陥検査や自動レポート作成、VGSTUDIO MAX連携による座標計測、欠陥/介在物、肉厚解析、リバースエンジニアリングなどの高度な解析が可能。樹脂成形品から鋳物、医療部品、実装基板、電子部品、航空宇宙部品、考古学遺物まで、幅広い素材と用途に対応し、非破壊検査による品質向上とコスト削減に貢献する。
