CIRCOGRAPH ระบบทดสอบ CI สำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องที่พื้นผิวอย่างรวดเร็ว
ตรวจจับข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ ในวัสดุทั้งหมดตั้งแต่ 30 µm เสริมสร้างการประกันคุณภาพของคุณด้วย CIRCOGRAPH CI
■บทสรุป
CIRCOGRAPH CI เป็นระบบทดสอบขนาดกะทัดรัดและมีความแม่นยำสูงสำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องที่พื้นผิวยาวในวัสดุที่เป็นเฟอร์โรแมกเนติก ออสเทนนิติก และไม่ใช่เฟอร์โรแมกเนติก ระบบนี้ผสมผสานการทำงานที่ง่ายและความยืดหยุ่นสูงเข้าด้วยกัน ซึ่งมีส่วนช่วยในการประกันคุณภาพในอุตสาหกรรมต่างๆ
■คุณสมบัติ
CIRCOGRAPH CI มอบประสบการณ์การใช้งานที่ยอดเยี่ยมแก่ผู้ใช้ด้วยการออกแบบที่กะทัดรัดและหน่วยการทำงานที่ใช้งานง่าย นอกจากนี้ วิธีการใช้งานแบบ หมุนแล้วดัน ช่วยให้เปลี่ยนแปลงการกำหนดค่าได้ง่าย และระบบทดสอบแบบสองช่องสัญญาณสามารถตอบสนองความต้องการในการทดสอบที่หลากหลาย นอกจากนี้ ด้วยความละเอียดความลึกของข้อบกพร่องตั้งแต่ 30 µm คุณจะไม่พลาดแม้แต่ข้อบกพร่องบนพื้นผิวที่เล็กที่สุด
■ข้อมูลจำเพาะ
・วัสดุที่ทดสอบได้: วัสดุที่เป็นเฟอร์โรแมกเนติก, ออสเทนไนต์, วัสดุแม่เหล็กที่ไม่ใช่เหล็ก
ระบบเซ็นเซอร์: ระบบเซ็นเซอร์โรตารีพร้อมหัวทดสอบตรงข้ามสูงสุดสองตัว (Ro 20 และ Ro 35)
・ความถี่กระตุ้น: 30 kHz ถึง 1 MHz
・ปริมาณงานสูงสุด: 3 ม./วินาที ในระหว่างการทดสอบต่อเนื่อง
・ข้อบ่งชี้ข้อบกพร่อง: Ro 20 / Ro 35 ตั้งแต่ 30 µm
CIRCOGRAPH CI สามารถใช้งานได้หลากหลาย ตั้งแต่การผลิตไปจนถึงการควบคุมคุณภาพ การนำระบบการทดสอบนี้มาใช้ เราจะมีส่วนช่วยปรับปรุงคุณภาพผลิตภัณฑ์และประสิทธิภาพการผลิต
CONTACT
แบบฟอร์มติดต่อข้อมูลบริษัท
การตรวจสอบกระแสไหลวน / ทะลุทะลวง / อนุภาคแม่เหล็ก / การตรวจสอบอัลตราโซนิก
ก่อตั้งเมื่อวันที่ 29 มกราคม 2550 ดำเนินงานมามากกว่า 10 ปีในรูปแบบของตัวแทนของ NDT Instruments Pte. Ltd. สิงคโปร์ เราภูมิใจที่เป็นตัวแทนของพันธมิตรที่มีชื่อเสียง เช่น Eddyfi Technologies, Institut Dr ...
แคตตาล็อกที่เกี่ยวข้อง
