表面欠陥の迅速検出を実現するCIRCOGRAPH CIテストシステム (タイ)
あらゆる材料の微細な欠陥を30µmから検出。CIRCOGRAPH CIで品質保証を強化しましょう。
■概要
CIRCOGRAPH CIは、鉄磁性、オーステナイト、非鉄磁性材料の長い表面欠陥を検出するためのコンパクトで高精度なテストシステムです。このシステムは、簡単な操作性と高い柔軟性を兼ね備え、様々な産業での品質保証に貢献します。
■特長
CIRCOGRAPH CIは、そのコンパクトな設計と直感的な操作ユニットで、ユーザーに優れた使用体験を提供します。また、「ターンアンドプッシュ」の操作方法により、簡単に設定変更が可能であり、2つのチャネルテストシステムを通じて、様々なテストニーズに対応します。さらに、30µmからの欠陥深さ解像度により、微細な表面欠陥も見逃しません。
■仕様
・テスト可能材料: 鉄磁性、オーステナイト、非鉄磁性材料
・センサーシステム: 最大2つの対向テストヘッドを持つ回転センサーシステム（Ro 20 と Ro 35）
・激励周波数: 30 kHz ～ 1 MHz
・最大スループット: 連続テスト中の3 m/s
・欠陥表示: Ro 20 / Ro 35で30 µmから
CIRCOGRAPH CIは、製造業から品質管理まで、幅広い用途での使用が可能です。このテストシステムを導入することで、製品の品質向上と生産効率の向上に貢献します。
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