表面欠陥検査装置 AIRIS ACEシリーズ 型式:AIRIS-SP320 タイ バンコク
高速生産ラインでも高精度検査を実現するAIRIS-SP320。判別に難しい欠陥も見逃さない、あなたの品質管理の強い味方。
AIRIS ACEシリーズの表面欠陥検査装置、型式:AIRIS-SP320は、高速生産ラインにおける表面欠陥検査の課題を解決します。この装置は、特にセパレータフィルムなどの検査に最適化された検出パラメータを搭載し、従来困難だった微細な欠陥の判別を可能にします。さらに、画像処理シミュレーション機能を備え、多言語対応によりグローバルな使用環境にも柔軟に対応します。
■ 特長
セパレータフィルム向け検出パラメータ搭載: セパレータフィルムなどの特定用途に特化した検出パラメータにより、精度の高い検査を実現。
判別に難しい欠陥に対する機能強化: 微細な欠陥や従来判別が難しかった欠陥も確実に検出。
画像処理シミュレーション機能搭載: 実際の検査前にシミュレーションを行うことで、最適な検査条件を設定可能。
同一プラットフォームで多言語対応: 日本語、英語、中国語、韓国語に対応し、国際的な製造ラインでも容易に導入・運用。
■ 仕様
型式: AIRIS-SP320
対応言語: 日本語、英語、中国語、韓国語
特長: 高速ライン対応、高分解能、画像処理シミュレーション、多言語対応
適用分野: セパレータフィルム検査など、表面が重要な製品の品質管理
AIRIS-SP320は、高速かつ高分解能での表面欠陥検査を可能にし、生産品質の向上に貢献します。判別に難しい欠陥の検出能力と、使用のしやすさを兼ね備えたこの装置は、あらゆる生産ラインでの品質管理の強化を支援します。
詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問合せください。
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