表面欠陥検査装置 AIRIS ACEシリーズ 型式:AIRIS-SP タイ バンコク
品質の差を生む、一歩先を行く検査技術。AIRIS-SPで、あらゆる欠陥に対応します。
AIRIS ACEシリーズの表面欠陥検査装置、型式:AIRIS-SPは、セパレータフィルムをはじめとする高品質が求められる製品の検査に最適なソリューションを提供します。この装置は、判別に難しい微細な欠陥を高精度に検出するための機能を強化し、画像処理シミュレーション機能を搭載しています。これにより、品質管理プロセスが効率化され、生産効率の向上と製品品質の安定化が期待できます。
■ 特長
セパレータフィルム向け検出パラメータ搭載: 製品の特性に合わせた検出パラメータにより、より精密な検査を実現します。
判別に難しい欠陥に対する機能強化: 微細な欠陥や通常では見逃しやすい欠陥も確実に検出します。
画像処理シミュレーション機能搭載: 検査プロセス前にシミュレーションを行い、最適な検査条件を設定可能。
同一プラットフォームで多言語対応: 日本語、英語、中国語、韓国語に対応し、世界中の製造ラインでの使用に適応。
■ 仕様
型式: AIRIS-SP
対応言語: 日本語、英語、中国語、韓国語
特長: セパレータフィルム向け検出パラメータ、画像処理シミュレーション、多言語対応
適用分野: セパレータフィルムなど、高精度な表面検査が必要な製品
AIRIS-SPは、製品品質を左右する微細な欠陥も見逃さない、信頼性の高い検査装置です。最新の技術を駆使して、あなたの品質管理プロセスを支援します。
詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問合せください。
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